SJ 50033.97-1995 半导体分立器件2CJ4011、2CJ4012、2CJ4021、2CJ4022型阶跃恢复二极管详细规范
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ID： |
ED452212A360482B973D7864E6A30A15 |
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0.52 |
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8 |
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日期： |
2024-7-27 |
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中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5961 SJ 50033/97-95,半导体分立器件,2CJ401I ヽ 2CJ4012 ヽ 2CJ4021 ヽ,2CJ4022型阶跃恢复二极管,详细规范,Semicondutor discrete devices,Detail specification for types 2CJ4011,2CJ4012,2CJ4021 and 2CJ4022 step recovery diodes,1996丒06丒14发布1996-10-01 实施,中华人民共和国电子工业部 批准,中华人民共和国电子行业军用标准,半导体分立器件,2CJ4011、2CJ4012、2CJ4021,2CJ4022型阶跃恢复二极管,详 细 规 范,SJ 50033/97-95,Semicondutor discrete devives,Detail specification for types 2CJ4011,2CJ4012,2CJ4021 and 2CJ4022 step recovery diodes,1范,1.I 主题内容,本规范规定了 2CJ4011.2CJ4012.2CJ4021.2CJ4022型阶跃恢复二极管（以下简称器件）,的详细要求,1.2 适用范围,本规范适用于器件的研制、生产和采购,1.3 分类,本规范根据器件质量保证等级进行分类,1.3.1 器件的等级,按GJB 33《半导体分立器件总规范》1.3条的规定,提供的质量保证等级为普军、特军和,超特军三级,分别用字母GP、GT和GCT表示,2引用文件,GB 6570—86 微波二极管测试方法,GJB 33—85 半导体分立器件总规范,GJB 128—86 半导体分立器件试验方法,GJB 1557-92半导体分立器件微波二极管外形尺寸,3要求,3.I 详细要求,各项要求应符合GJB 33和本规范的规定,3.2 设计、结构和外形尺寸,器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB 33和本规范的规定,中华人民共和电子工业部1996-06-14发布1996-10-01 实施,1,SJ 50033/97-95,3.2 .］引出端材料和涂层,引出端材料应为铜,表面涂层应为金,3.2.2 器件结构,N型硅外延材料,台式PIN结构,金属陶瓷管壳封装,3.2.3 外形尺寸,外形尺寸按GJB 1557的W7—01型，如图1〇,mm,符号,尺,min,寸,max,2.54 2.66,1.72 1.88,①E 0.94 1.00,H 2.8 3.6,1.50 2.10,C 0.60 0.80,虹)1,3.3 最大额定值和主要电特性,3.3.1最大额定值,型 号,Vrm,(V),戸) 1 F,(mA),丁8,（匕）,Tstg,(匕),2CJ4011,2CJ4012,20,50,155.,+ 125,q,一 65.,2CJ4021 + 175,2CJ4022,30,注:1）Ta〉25七时按0.5mA/七线性降额,3.3.2 主要电特性（Ta = 25匕）?,2,SJ 50033/97-95,2CJ4011,----------------- 20,2CJ4012,2CJ4021,----------------- 30,2CJ4022,Vr = 6V,f= 1MHz,(pF),最小值］最大值,T或,Ip = 10mA,Vr=10V,(ps),最大值,0.3 1.0 100,r,If = 5mA,Ir = 40 mA,(ns),最小值,10,20,10,20,Z(th”,脉宽:,10ms,/F= 500mA,(V/W),最大值,300,3.4 电测试要求,电测试应符合GB 6570及本规范的规定,3.5 标志,标志应符合GJB 33和本规范的规定;在包装袋（盒）上应有器件极性标志,4质量保证规定,4.!抽样和检验,抽样和检验应按GJB 33的规定°,4.2 鉴定检验,鉴定检验应按GJB 33的规定,4.3 筛选（仅对GT和GCT级）,表1极限值的器件应予以剔除,筛选应按GJB 33表2和本规范的规定。其测试应按本规范表1的规定进行,超过本规范,筛,见,选,GJB 33 表 2,试验方法,GJB 128,测 试 和 试 验,2 高温寿命1032 Ta = 200匕 72h,3 热冲击1051 除循环20次外,其余同试验条件F,7 中间测试叫BR）、％、△匕br）、AVf失效判据同本表最后测试,8 电老化1038 见 4.3.1,9 最后测试IaKbr/KiJV；,AVfI^0.05V；,岁他参数,按本规范表1的A2和A4分组 _____ ________,4.3.1 电老化,Ta = 100匕;/=50Hz;IFM=10mA; Vrm= 17V;72h,4.4 质量一致性检验,4.4.1 A组检验,A组检验应按GJB 33和本规范表1的规定进行,4.4.2 B组检验,3,SJ 50033/97-95,B组检验应按GJB 33和本规范表2的规定进行,4.4.3 C组检验,C组检验应按GJB 33和本规范表3的规定进行,4.5检验和试验方法,检验和试验方法应按本规范相应表的规定,表1 A组检验,检验或试验,GB 6570,方法I 条 件,极限值,LTPD 符号单位,最小值 最大值,A1分组,外观及机械检验,5,GJB 128,2071,A2分组,反向击穿电压,5,3.1,2CJ40U,2CJ4012,2CJ4021,2CJ4022,正向电压,结电容,3.3,3.5,10mA,Vr = 6V,f= 1MHz,20,20,30,30,0.3 E0,……
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